Новые возможности лучевой диагностики при моделировании контактных зон эпифизов пальцев кисти

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorНауменко Л.Ю.
dc.contributor.authorМаметьев А.А.
dc.contributor.authorМирончук Л.В.
dc.contributor.authorПогребной О.В.
dc.date.accessioned2024-10-23T11:07:25Z
dc.date.available2024-10-23T11:07:25Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationНауменко Л.Ю., Маметьев А.А., Мирончук Л.В., Погребной О.В. Новые возможности лучевой диагностики при моделировании контактных зон эпифизов пальцев кисти: Збірник наукових праць ХVІ з'їзду ортопедів-травматологів України. Харків, 3-5 жовтня 2013; м. Харків. Харків, 2013: 200-201
dc.identifier.urihttps://archive.sytenko.org.ua/handle/123456789/1023
dc.titleНовые возможности лучевой диагностики при моделировании контактных зон эпифизов пальцев кисти
dc.typeThesis

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
4-27 Науменко.pdf
Розмір:
104.71 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed to upon submission
Опис:
Завантажити

Колекції

ІV РОЗДІЛ УШКОДЖЕННЯ ТА ЗАХВОРЮВАННЯ ВЕРХНЬОЇ КІНЦІВКИ